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日本Otsuka大塚GP series分光配光測量系統-成都藤田科技提供 特點： 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量， 對應CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm） 光學系統降低了...

MCPD-6800 大塚光譜儀高精度光譜測量設備 根據用途的各種檢測器的陣容 以最檔次的機型MCPD-9800為首，擁有兩個系列，共達9個波長范圍的檢測器型號。 可配合客戶的需求與測量用途，選擇最的檢測器。 測量項目與所對應的檢測器

OTSUKA 光譜儀 MCPD-9800 半導體檢測設備 根據用途的各種檢測器的陣容 以最檔次的機型MCPD-9800為首，擁有兩個系列，共達9個波長范圍的檢測器型號。 可配合客戶的需求與測量用途，選擇最合的檢測器。 測量項目與所對應的檢測器

日本OTSUKA大塚膜厚量測儀 支持從薄膜到厚膜的各種薄膜厚度 使用反射光譜分析薄膜厚度 實現非接觸、非破壞的高精度測量，同時體積小、價格低 簡單的條件設置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度 通過峰谷法、頻率分析法、非線性最小二乘法、優化法等，可以進行多種膜厚測量。 非線性最小二乘法薄膜厚度分析算法可以進行光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）。

顯微分光膜厚儀 OPTM series 非接觸、非破壞式，量測頭可自由集成在客戶系統內 初學者也能輕松解析建模的初學者解析模式 高精度、高再現性量測紫外到近紅外波段內的絕對反射率，可分析多層薄膜厚度、光學常數（n：折射率、k：消光系數） 單點對焦加量測在1秒內完成 顯微分光下廣范圍的光學系統（紫外 ~ 近紅外） 獨立測試頭對應各種inline定制化需求 最小對應

日本OTSUKA大塚Smart膜厚儀 可攜帶至現場的手持式 可測量0.1μm單位 具有形狀的樣品也可非破壞的測量 不論基材材質、可測量其鍍膜